G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 1/02 (2006.01)
Patent
CA 2724275
A trace particle collection system accumulates trace particles of those materials that are adhering to target surfaces. The particles are removed from the surface, transported and collected in a particle collection medium, and then provided to a de-tection instrument. Trace particles are often bound tenaciously to the target surface, and simple techniques, such as blowing air, will either remove only the largest particles or none at all. The removal of trace particles is described which utilizes an aerosol mixture of frozen carbon dioxide aerosol particles in a gas stream to impact and more, efficiently remove the target particles from the surface.
L'invention porte sur un système de collecte de particules de trace qui accumule des particules de trace de matériaux qui adhèrent à des surfaces cibles. Les particules sont retirées de la surface, transportées et collectées dans un milieu de collecte de particules, puis fournies à un instrument de détection. Des particules de trace sont souvent liées de façon tenace à la surface cible, et des techniques simples, telles que le soufflage d'air, retireront soit uniquement les particules les plus grandes, soit aucune d'entre elles. L'invention porte sur le retrait de particules de trace qui utilise un mélange aérosol de particules d'aérosol de dioxyde de carbone congelées dans un écoulement de gaz pour impacter et retirer plus efficacement les particules cibles de la surface.
Bcf Llp
Implant Sciences Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1819341