Transport system for test sample carrier

Details Transport system for test sample carrier Transport system for test sample carrier

G - Physics

01

N

G01N 21/13 (2006.01) B65G 25/04 (2006.01) G01N 1/00 (2006.01) G01N 35/04 (2006.01)

Patent

CA 2536263

A transport system is provided for a sample testing machine. The transport system includes a carrier holding a set of test sample devices and a drive subsystem for moving the carrier through the sample testing machine. The drive subsystem includes a reciprocating motor~driven block engaging the carrier and moving the carrier back and forth in a predetermined longitudinal path extending along a longitudinal axis from an entrance station to a plurality of processing stations in the sample testing machine. The processing stations are accessed as the carrier is moved along the path. The carrier includes features in the form of slots that are detected by strategically placed optical interrupt sensors. As the carrier moves, the slots are detected by the sensors to thereby continuously track the position of the carrier and the test devices as they are moved through the instrument.

L'invention concerne un système de transport destiné à un appareil d'analyse d'échantillons. Le système de transport comprend un support maintenant un ensemble de dispositifs d'échantillons pour analyse et un sous-système d'entraînement pour déplacer le support dans l'appareil d'analyse d'échantillons. Le sous-système d'entraînement comprend une unité actionnée par un moteur alternatif, qui entre en contact avec le support de manière à lui imprimer un mouvement de va-et-vient sur un trajet longitudinal prédéterminé, suivant un axe longitudinal, d'un poste d'entrée vers une pluralité de postes de traitement de l'appareil. Le support, en se déplaçant sur le trajet, permet d'accéder aux postes de traitement. Le support comporte des caractéristiques sous forme de fentes, qui sont détectées par des capteurs optiques d'interruption positionnés à cet effet. Pendant le déplacement du support, les capteurs détectent les fentes de manière à suivre en continu la position du support et des dispositifs pour analyse à mesure que ceux-ci se déplacent dans l'appareil.

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