C - Chemistry – Metallurgy – 12 – Q
Patent
C - Chemistry, Metallurgy
12
Q
C12Q 1/02 (2006.01) C12Q 1/04 (2006.01) C12Q 1/68 (2006.01) C40B 30/00 (2006.01) G01N 33/48 (2006.01) G01N 33/569 (2006.01)
Patent
CA 2564145
Aspects of the present invention provide novel multi-targeted microbiological screening and monitoring methods having substantial utility for monitoring and control of microbial growth and contaminants, microbiological processes, predictive microbiology, and for exposure and risk assessment. Microbial markers shared by both target and index microbes are used in novel methods for microbial monitoring, monitoring of microbial performance potential, trend analysis, and statistical process control (SPC) in processes or systems that are receptive to a plurality of genetically distinct microbes.
L'invention concerne un nouveau dépistage microbiologique de cibles multiples et la surveillance de procédés ayant une grande utilité permettent de surveiller et de commander une croissance microbienne et des contaminants, des procédés microbiologiques et une microbiologie prédictive et permettent d'évaluer une exposition et des risques. Des marqueurs microbiens partagés à la fois par les microbes cibles et les microbes indice sont utilisés dans ces nouveaux procédés pour la surveillance microbienne, la surveillance d'un potentiel de performances microbiennes, l'analyse de tendances et la commande d'un procédé statistique (SPC) dans des procédés ou systèmes qui sont réceptifs à une pluralité de microbes génétiquement distincts.
Institute For Environmental Health Inc.
Oyen Wiggs Green & Mutala Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2028901