Wavefront calibration analyzer and methods

B - Operations – Transporting – 23 – K

Patent

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Details

B23K 26/42 (2006.01) A61F 9/008 (2006.01) B23K 26/36 (2006.01)

Patent

CA 2521845

A wavefront sensor enhances calibration of a laser ablation system, such as a laser eye surgery system, by measuring one or more characteristics of an ablated test surface. Typically, light is passed through the ablated test surface, and the light is analyzed to determine the test surface characteristics. In some embodiments, the ablated test surface is positioned along a treatment plane. In some embodiments, light is passed through a wavefront sensor, such as a Hartmann-Shack sensor, to convert the light into electrical signals. A processor then converts the electrical signals into data, such as surface maps showing high-order aberrations and/or artifacts on the test surface, refractive power measurements, shape measurements, and the like. Generated data may then be used to calibrate a laser surgery system.

Selon l'invention, un capteur de front d'onde améliore l'étalonnage d'un système d'ablation à laser, tel qu'un système de chirurgie oculaire à laser, en mesurant au moins une caractéristique d'une surface test prélevée. Généralement, on fait passer de la lumière à travers ladite surface test et on analyse ladite lumière pour déterminer les caractéristiques de cette surface. Dans certains modes de réalisation, la surface test prélevée est placée le long d'un plan de traitement. Dans certains modes de réalisation, on fait passer de la lumière à travers un capteur de front d'onde, tel qu'un capteur de Hartmann-Shack pour la convertir en signaux électriques. Un processeur transforme alors ces signaux électriques en données, telles que des cartes de la surface montrant des aberrations d'ordre supérieur et/ou des artefacts sur la surface test, des mesures de réfringence, des mesures de formes et analogues. Les données générées peuvent ensuite être utilisées pour l'étalonnage du système de chirurgie à laser.

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