G - Physics – 21 – K
Patent
G - Physics
21
K
G21K 1/06 (2006.01)
Patent
CA 2489646
X-ray fluorescence (XRF) spectroscopy systems and methods are provided. One system (100) includes a source (110) of x-ray radiation and an excitation optic (120) disposed between the x-ray radiation source (110) and the sample (130) for collecting x-ray radiation from the source and focusing the x-ray radiation to a focal point on the sample to incite at least one analyte in the sample to fluoresce. The system (100) further includes an x-ray fluorescence detector (150) and a collection optic (140) comprising a doubly curved diffracting optic disposed between the sample and the x-ray fluorescence detector for collecting x-ray fluorescence from the focal point on the sample and focusing the fluorescent x-rays towards the x-ray fluorescence detector.
Cette invention concerne des systèmes et des procédés de spectrophotométrie à fluorescence X. Un de ces systèmes (100) comprend une source (110) de rayons X et une optique d'excitation (120) disposée entre la source de rayons X (110) et l'échantillon (130) pour la collecte des rayons X depuis la source et leur focalisation sur un point focal de l'échantillon, le but recherché étant d'amener au moins un analyite de l'échantillon à fluorescer. De plus, le système (100) comprend un détecteur de fluorescence X (150) (150) et une optique collectrice (140) composée elle-même d'une optique de diffraction à double courbure disposée enter l'échantillon et le détecteur de fluorescence X qui collecte la fluorescence X à partir du point focal de l'échantillon et concentre les rayons X fluorescent sur le détecteur de fluorescence X.
Chen Zewu
Gibson David M.
Cassan Maclean
X-Ray Optical Systems Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1624997