G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 27/28 (2006.01) G02B 5/30 (2006.01) G02F 1/01 (2006.01) G02F 1/21 (2006.01)
Patent
CA 2366478
A system (10) for rotating a polarization state of a beam of electromagnetic energy (22) of the present invention. The system (10) includes a first mechanism (16) for receiving the beam of electromagnetic energy (22). The beam of electromagnetic energy (22) is characterized by a first arbitrary polarization state oriented at a first angle. A second mechanism (16, 18, 20) orients the first arbitrary polarization state, via one or more waveplates (16, 18, 20), at a second angle that is different from the first angle. In a specific embodiment, the one or more waveplates (16, 18, 20) include a first quarter waveplate (16) having a principal axis (26) angled at 45~ from horizontal relative to a given reference frame. A second quarter waveplate (20) is angled at -45~. The second mechanism (16, 18, 20) includes a phase mechanism (18) that is positioned between the first quarter waveplate (16) and the second quarter waveplate (20) and introduces a desired phase shift to the polarization state of the beam of electromagnetic energy (24) output from the first quarter waveplate (16). The desired phase shift is twice the difference between the first angle and the second angle, which corresponds to a desired angle of rotation of the first arbitrary polarization state.
L'invention concerne un système (10) destiné à faire tourner l'état de polarisation d'un faisceau d'énergie électromagnétique (22). Ce système (10) comprend un premier mécanisme (16) destiné à recevoir le faisceau d'énergie électromagnétique (22). Ce faisceau (22) est caractérisé par un premier état arbitraire de polarisation orienté selon un premier angle. Un second mécanisme (16, 18, 20) oriente ce premier état arbitraire de polarisation, via une ou plusieurs lames-ondes (16, 18, 20), selon un second angle différent du premier. Dans une réalisation spécifique, la lame-onde ou les lames-ondes (16, 18, 20) comprennent une première lame de quart d'onde (16) dont l'axe principal (26) fait un angle de 45 DEG avec l'horizontale par rapport à un cadre de référence donné. Une seconde lame de quart d'onde (20) est positionnée à 45 DEG . Le second mécanisme (16, 18, 20) comprend un mécanisme de phase (18) positionné entre les première (16) et seconde (20) lames de quart d'onde qui permet d'attribuer un décalage de phase recherché à l'état de polarisation du faisceau d'énergie électromagnétique à sa sortie (24) de la première lame de quart d'onde (16). Le décalage de phase recherché est égal à deux fois la différence entre les premier et second angles, ce qui correspond à l'angle de rotation recherché du premier état arbitraire de polarisation.
Raytheon Company
Sim & Mcburney
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1716739