G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/89 (2006.01) G01N 21/892 (2006.01)
Patent
CA 2437778
A web inspection system (50) provides detection of web flaws along the machine direction and cross direction of a web (52). The detectable percent contrast between good web material and bad web material in one embodiment approaches noise level. The web inspection system utilizes a multiple of smart cameras (60) connected to a host computer via an ethernet hub (62). Each smart camera includes a line scan camera for producing digital pixels, a means for lighting and pixel correction on a pixel by pixels basis, a web edge detector for monitoring the edges of a web, a multi-pipeline flaw detection pre-processor for detecting very small changes in the web material, a run length encoder (54) for generating data regarding the location of each group of potential flaws in a cross direction, a 2D blob detector and analyzer for generating data regarding the location of block flaws along a machine direction, and an inspect/reject analysis for determining the actual flaw data from the potential flaw data.
Cette invention concerne un système d'inspection de bandes permettant de détecter des défectuosités dans le sens d'avance et dans le sens transversal d'une bande. Selon un mode de réalisation de l'invention, le contraste détectable, en pourcentage, entre un matériau de bande de bonne qualité et un matériau de bande de mauvaise qualité est proche du niveau sonore. Ce système d'inspection de bandes fait appel à de multiples caméras intelligentes connectées à un ordinateur hôte via un pivot Ethernet. Chaque caméra intelligente comprend un une caméra à balayage linéaire produisant des pixels numériques, un dispositif d'éclairage et de correction de pixels pixel par pixel, un détecteur de limites de bande surveillant les bords de la bande, un préprocesseur de détection de défauts multi-pipeline capable de détecter des variations infimes dans le matériau de la bande, un codeur RLC produisant des données de localisation pour chaque groupe de défauts potentiels dans le sens transversal, un détecteur de taches bidimensionnel et un analyseur produisant des données sur l'emplacement de défauts en bloc dans le sans d'avance, et un dispositif d'inspection/rejet capable de fournir des données sur des défauts effectifs à partir de données sur des défauts potentiels. Un système d'inspection de bande à faible contraste permet d'obtenir une architecture équilibrée et répartie pour les taux de défectuosités élevés et qui s'intègre facilement dans le système de fabrication de bandes existant.
Becker Robin D.
Guha Sujoy D.
Kiraly Chris M.
Smart & Biggar
Wintriss Engineering Corporation
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1599471