G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/28 (2006.01) G01R 1/073 (2006.01) H05K 3/32 (2006.01)
Patent
CA 2217591
A printed circuit board test fixture includes a plurality of flexible printed circuits having circuit traces on one side for interconnecting the test probe pin assemblies of the fixture with the interface connector pins for the interface panel of the fixture. The flexible circuits are folded in the fixture housing to provide spaced apart non-contacting layers of first contact areas for connection to the test probe pin assemblies and spaced apart non-contacting layers of second contact areas for connection to the interface connector pins. The layers of flexible circuit of each contact area receive the test probe pin assemblies and interface connector pins which secure the layers of flexible circuit in the fixture. The test probe pin assemblies and the interface connector pins make electrical and mechanical engagement with terminal apertures in the layers of flexible circuit. The layers further include through holes allowing the test probe pin assemblies and interface connector pins to pass through layers of the flexible circuit without making electrical contact with these layers. This permits circuit traces to be used on each of the layers of flexible circuit for selected test probe pin assembly and interface connector pin connected pairs.
Dispositif d'essai de carte de circuits imprimés comprenant une série de circuits imprimés flexibles ayant, sur un côté, des tracés de circuits destinés à relier les broches du dispositif d'essai aux broches de raccord du panneau d'interface du dispositif d'essai. Les circuits flexibles sont pliés dans le logement du dispositif d'essai pour former : des couches espacées de premières zones de contact ne se touchant pas et destinées à se connecter aux broches du dispositif d'essai; et des couches espacées de secondes zones de contact, ne se touchant pas, conçues pour se connecter aux broches du connecteur d'interface. Les couches flexibles de chaque zone de contact reçoivent les broches du dispositif d'essais et les broches du connecteur d'interface qui fixent les couches de circuits flexibles dans le dispositif d'essais. Les broches du dispositif d'essais et du connecteur d'interface forment un contact électrique et mécanique avec des ouvertures d'extrémités situées dans les couches de circuits flexibles. Les couches comprennent en outre des trous débouchants permettant aux broches du dispositif d'essais et du connecteur d'interface de passer à travers les couches de circuits flexibles sans établir de contact électrique avec ces dernières. Par conséquent, cela permet d'utiliser les tracés de circuits formés sur chaque couche de circuit flexible pour des broches d'essais sélectionnées et des paires reliées de broches de connecteur d'interface.
700674 Ontario Limited Doing Business As Carroll Associates
Craig Wilson And Company
LandOfFree
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