G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2519657
An open beam x-ray diffraction system and method are provided including modular x-ray heads for being detachably connected to a base unit having a common drive assembly that shifts the heads in an arcuate path during an x-ray diffraction measurement operation. The heads can be tailored to different performance criteria depending on the needs of the measurement operation that is to take place. To this end, one of the heads can be a microhead that is adapted to take measurements from otherwise difficult to access surfaces, such as on the inside of tubular parts. Enhancements to the drive assembly for improved accuracy and speed are also disclosed.
Cette invention concerne un système et un procédé de diffraction des rayons X à faisceaux ouverts faisant intervenir des têtes de rayons X modulaires raccordées libérable à une unité de base à ensemble d'entraînement commun qui fait se déplacer les têtes selon une trajectoire arciforme pendant une opération de mesure par diffraction des rayons x. Les têtes peuvent être adaptées à des critères de fonctionnement différents selon les exigences de l'opération de mesure à effectuer. A cette fin, l'une des têtes peut être une micro-tête pouvant effectuer des mesures dans des surfaces d'accès difficile, par exemple à l'intérieur de pièces tubulaires. L'invention concerne également des améliorations apportées à l'unité d'entraînement en termes de précision et de rapidité.
Macrae & Co.
Proto Manufacturing Llc.
Proto Manufacturing Ltd.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1830368