B - Operations – Transporting – 21 – B
Patent
B - Operations, Transporting
21
B
B21B 38/00 (2006.01) G01N 21/89 (2006.01) G01N 21/21 (2006.01)
Patent
CA 2676748
The defect marking method comprises the steps of: installing a surface defect tester to detect surface flaw and a marker device to apply marking at defect position, in a continuous processing line of steel sheet; detecting the surface flaw on the steel sheet using the surface defect tester; determining defect name, defect grade, defect length, and defect position in the width direction of the steel sheet, on the basis of thus detected flaw information, further identifying the defect in terms of harmful defect, undeterminable defect, and harmless defect; applying tracking of the defect position for each of the harmful defect and the undeterminable defect; and applying marking to the defect position. The defect marking device comprises a defect inspection means having plurality of light-receiving parts and a signal processing section, and a marking means.
La présente concerne un procédé de marquage de défauts qui comprend les étapes suivantes : installer, dans une chaîne de traitement continu de plaques d'acier, un détecteur de défauts de surface qui va détecter les imperfections, ainsi qu'un dispositif marqueur qui va marquer la position des défauts; détecter les imperfections sur les plaques d'acier à l'aide du détecteur de défauts de surface; calculer le type des défauts, leur gravité, leur longueur et leur position dans le sens de la largeur, en fonction des informations sur les imperfections détectées, puis décider s'il s'agit de défauts présentant des risques ou non, de défauts difficiles à discriminer ou de défauts sans danger; effectuer un suivi des positions individuelles des défauts présentant un risque ou difficiles à discriminer; et enfin, marquer la position des défauts. La présente concerne également un dispositif de marquage des défauts comprenant un système de test des imperfections qui comprend plusieurs photorécepteurs et une section de traitement de signaux. Cette invention concerne enfin un système de marquage.
Fukuda Shigemi
Harada Kozo
Harada Shuichi
Inomata Masaichi
Iwabuchi Masahiro
Jfe Steel Corporation
Ridout & Maybee Llp
LandOfFree
Defect marking method and device does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Defect marking method and device, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Defect marking method and device will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1372222