Method and system for standardizing microscope instruments

Details Method and system for standardizing microscope instruments Method and system for standardizing microscope instruments

G - Physics

01

N

G01N 21/64 (2006.01)

Patent

CA 2690633

Methods and apparatus for standardizing quantitative measurements from a microscope system. The process includes a calibration procedure whereby an image of a calibration slide is obtained through the optics of the microscope system. The calibration slide produces a standard response, which can be used to determine a machine intrinsic factor for the particular system. The machine intrinsic factor can be stored for later reference. In use, images are acquired of a target sample and of the excitation light source. The excitation light source sample is obtained using a calibration instrument configured to sample intensity. The calibration instrument has an associated correction factor to compensate its performance to a universally standardized calibration instrument. The machine intrinsic factor, sampled intensity, and calibration instrument correction factor are usable to compensate a quantitative measurement of the target sample in order to normalize the results for comparison with other microscope systems.

L'invention porte sur des procédés et des appareils pour normaliser des mesures quantitatives à partir d'un système de microscope. Le procédé comprend une procédure d'étalonnage par laquelle une image d'une lame d'étalonnage est obtenue par l'optique du système de microscope. La lame d'étalonnage produit une réponse standard, qui peut être utilisée pour déterminer un facteur intrinsèque de machine pour le système particulier. Le facteur intrinsèque de machine peut être stocké pour une référence ultérieure. Lors de l'utilisation, des images d'un échantillon cible et de la source de lumière d'excitation sont acquises. L'échantillon de source de lumière d'excitation est obtenu à l'aide d'un instrument d'étalonnage configuré pour échantillonner l'intensité. L'instrument d'étalonnage a un facteur de correction associé pour compenser sa performance à un instrument d'étalonnage normalisé de façon universelle. Le facteur intrinsèque de machine, l'intensité échantillonnée et le facteur de correction d'instrument d'étalonnage peuvent être utilisés pour compenser une mesure quantitative de l'échantillon cible afin de normaliser les résultats pour une comparaison avec d'autres systèmes de microscope.

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