Sample measurement system

G - Physics – 01 – N

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

IPC codes

G01N 33/487 (2006.01) C12Q 1/00 (2006.01) G01N 33/543 (2006.01)

Type

Patent

Patent number

CA 2738731

Description

The present invention relates to a sample measurement system. In particular the invention relates to a sample measurement system for measuring certain selected properties of a liquid substrate, such as the glucose levelsin a blood sample. More particularly the invention relates to a sample measurement system for performing electrochemical measurements on a sample, the system comprising a sampling plate with a loading port for receiving a liquid substrate; and a measurement device; wherein the sampling plate comprises a sample zone with at least two discrete testing zones, which sample zone is arranged, in use, to separate the liquid substrate into at least two discrete samples, such that each sample occupies a respectivetesting zone; and the measurement device is operable to communicate with the sampling plate to measure one or more selected properties of any of the at least two samples.

La présente invention porte sur un système de mesure d'échantillon. En particulier, l'invention porte sur un système de mesure d'échantillon pour mesurer certaines propriétés sélectionnées d'un substrat liquide, telles que le taux de glucose dans un échantillon de sang. Plus particulièrement, l'invention porte sur un système de mesure d'échantillon pour effectuer des mesures électrochimiques sur un échantillon, le système comprenant une plaque d'échantillonnage avec un orifice de chargement pour recevoir un substrat liquide; et un dispositif de mesure; la plaque d'échantillonnage comprenant une zone d'échantillon avec au moins deux zones de test discrètes, laquelle zone d'échantillon étant conçue, pour séparer, lors de l'utilisation, le substrat liquide en au moins deux échantillons discrets, de telle sorte que chaque échantillon occupe une zone de test respectif, et le dispositif de mesure est apte à communiquer avec la plaque d'échantillonnage pour mesurer une ou plusieurs propriétés sélectionnées de l'un quelconque des au moins deux échantillons.

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Sample measurement system does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Sample measurement system, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Sample measurement system will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-1485299

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.