G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 21/57 (2006.01) G01B 11/30 (2006.01) G01N 33/34 (2006.01)
Patent
CA 2628862
A device for detecting surface characteristics of a sample surface is disclosed. The exemplary system may have a conveying device for moving a sample surface and a light source for reflecting a beam of light off the sample surface. A light detector may receive the beam of light reflected from the sample surface. The area of the beam of light may be unequal to an area of a light detection surface of the light detector. A reference analyzer may determine the optical surface based on a comparison of the reflected light received with known reflected light values for known sample surfaces .
L'invention concerne un dispositif destiné à la détection de caractéristiques d'une surface d'échantillon. Le système donné à titre d'exemple peut comprendre un dispositif transporteur destiné à déplacer une surface d'échantillon et une source de lumière destinée à réfléchir un faisceau de lumière à partir de la surface d'échantillon. Un détecteur de lumière peut recevoir le faisceau de lumière réfléchi à partir de la surface d'échantillon. L'aire du faisceau de lumière peut être différente d'une aire d'une surface de détection de lumière du détecteur de lumière. Un analyseur de référence peut déterminer la surface optique sur la base d'une comparaison de la lumière réfléchie reçue avec des valeurs de lumière réfléchie connues pour des surfaces d'échantillon connues.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Honeywell International Inc.
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1494873