G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 31/00 (2006.01) B01J 19/00 (2006.01) G01N 25/00 (2006.01) G01N 25/18 (2006.01) G01N 27/72 (2006.01)
Patent
CA 2317743
A modular materials characterization apparatus includes a sensor array (10) disposed on a substrate (16), with a standardized array and contact pad (14) format; electronic test and measurement apparatus (54) for sending electrical signals to and receiving electrical signals from the sensor array (10); an apparatus for making electrical contact (50) to the sensors in the standardized array format; an apparatus for routing signals (129) between one or more selected sensors and the electronic test and measurement apparatus and a computer (52) with a computer program recorded therein for controlling the operation of the apparatus. The sensor array (10) is preferably arranged in a standardized format used in combinatorial chemistry applications for rapid deposition of sample materials on the sensor array. An interconnection apparatus (40) and sensor array (10) and contact pad (32) allow measurement of many different material properties by using substrates carrying different sensor types.
L'invention concerne un appareil de caractérisation de matériaux modulaires comprenant un réseau (10) de détecteurs disposés sur un substrat (16), sous forme de pastille (14) de contact et de réseau normalisé; un appareil (54) de test et de mesure électronique permettant d'envoyer des signaux électriques vers et de recevoir de signaux électriques du réseau (10) de détecteurs; un appareil permettant de mettre en contact (50) électrique les détecteurs sous forme de réseau normalisé; un appareil d'acheminement de signaux (129) entre un ou plusieurs détecteurs sélectionnés et l'appareil de mesure et de test électronique et un ordinateur (52) avec un programme informatique afin de commander le fonctionnement de l'appareil. Le réseau (10) de détecteurs est disposé de préférence selon la manière utilisée dans l'application de chimie combinatoire en vue d'une rapide déposition de matière échantillon sur le réseau de détecteurs. L'appareil (40) d'interconnexion, le réseau (10) de détecteurs et la pastille (32) de contact permettent de mesurer un bon nombre de propriétés différentes de matières à l'aide de substrat portant différents types de détecteurs.
Bennett James
Mansky Paul
Ridout & Maybee Llp
Symyx Technologies Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1540572