G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 1/28 (2006.01)
Patent
CA 2597598
The present invention provides a method and apparatus for arriving at true relative amplitude destretched seismic traces from stretched seismic traces. The method compensates for offset varying reflection interference effects due to normal moveout. Stretch factors .beta. and also input spectra are determined for NMOR stretched seismic traces. Estimates are then made of stretched wavelet spectra from the input spectra. A destretched wavelet spectra is then obtained. Shaping correction factors are determined by taking the ratio of the destretched wavelet spectra to the stretched wavelet spectra and are applied to the input spectra of the stretched traces to arrive at a destretched trace spectra. True relative amplitude scaling factors are computed by taking the ratio of a true relative amplitude property of the destretched wavelet spectra to a corresponding true relative amplitude property of the stretched wavelet spectra. Finally, the true relative amplitude scaling factors are applied to the destretched trace spectra to arrive at true relative amplitude destretched seismic traces.
Cette invention concerne un procédé et un appareil permettant d'obtenir des traces sismiques désétirées d'amplitude relative réelle à partir de traces sismiques étirées. Le procédé compense les effets perturbateurs de variation d'écart dus aux réflexions provenant de l'obliquité. On détermine des facteurs d'étirement .beta. ainsi que des spectres d'entrée pour des traces sismiques étirées par ablation de l'obliquité. On établit ensuite des prévisions de spectres d'ondelettes à partir des spectres d'entrée. On obtient ensuite des spectres d'ondelettes désétirés. On détermine des facteurs de correction de mise en forme en considérant le rapport entre les spectres d'ondelettes désétirés et les spectres d'ondelettes étirés et on applique lesdits facteurs de correction de mise en forme aux spectres d'entrée des traces étirées pour obtenir des spectres de traces désétirés. On calcule des facteurs d'échelle d'amplitude relative réelle en considérant le rapport entre une propriété d'amplitude relative réelle des spectres d'ondelettes désétirés et une propriété d'amplitude relative réelle correspondante des spectres d'ondelettes étirés. Enfin, on applique les facteurs d'échelle d'amplitude relative réelle aux spectres de traces désétirées pour réaliser des traces sismiques désétirées d'amplitude relative réelle.
Alford Richard B.
Herkenhoff E. Frederic
Martin Harry L.
Chevron U.s.a. Inc.
Sim & Mcburney
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1541283