G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 29/08 (2006.01) G01R 33/10 (2006.01)
Patent
CA 2377959
A field distribution measuring method for measuring the spatial distribution of an electric field or a magnetic field by conducting a measurement at a plurality of sampling points while continuously scanning by a probe, wherein a sampling deviation amount is calculated based on a spurious vector generated due to a deviation between a probe position and a measuring timing and the distribution of an electrical field or a magnetic field is measured allowing for the deviation amount, whereby it is possible to properly remove a measuring noise generated by the deviation between a probe traveling position and a measuring timing.
La présente invention concerne un procédé de mesure de la distribution d'un champ qui permet de mesurer la distribution spatiale d'un champ électrique ou d'un champ magnétique. Ce procédé consiste à effectuer une mesure au niveau d'une pluralité de points d'échantillonnage tout en effectuant un balayage continu au moyen d'une sonde, pour calculer ainsi la valeur de déviation de l'échantillonnage sur la base d'un vecteur parasite généré par une déviation entre une position de la sonde et une durée de la mesure, la distribution d'un champ électrique ou d'un champ magnétique étant mesurée en acceptant la valeur de déviation, ceci permettant, lorsque c'est possible, d'éliminer efficacement un bruit de mesure généré par la déviation entre une position de déplacement de la sonde et une durée de mesure.
Advantest Corporation
Gowling Lafleur Henderson Llp
Ministry Of Internal Affairs And Communications (mic)
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1649821