Method of characterizing phase transformations in shape...

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 25/48 (2006.01)

Patent

CA 2685075

A method of characterizing phase transformations of a shape memory material specimen entails recording data from the specimen during heating and cooling. The temperature of the specimen is changed in a first direction to a first temperature sufficient to define a first inflection and a second inflection in the data being recorded. The temperature of the specimen is changed in a second direction to a second temperature sufficient to define a third inflection in the data. The third inflection is formed by overlapping primary and secondary sub-inflections. The temperature of the specimen is changed in the first direction to a third temperature sufficient to define the first inflection but not sufficient to define the second inflection. The temperature of the specimen is then changed in the second direction to a fourth temperature sufficient to define the secondary sub-inflection in the data being recorded.

L'invention concerne un procédé de caractérisation de transformations de phase dans une éprouvette en matériau à mémoire de forme, le procédé comportant l'enregistrement de données émanant de l'éprouvette pendant son chauffage et son refroidissement. La température de l'éprouvette est modifiée dans une première direction jusqu'à une première température suffisante pour définir une première inflexion et une deuxième inflexion dans les données en cours d'enregistrement. La température de l'éprouvette est modifiée dans une deuxième direction jusqu'à une deuxième température suffisante pour définir une troisième inflexion dans les données. La troisième inflexion est formée par des sous-inflexions primaire et secondaire se chevauchant. La température de l'éprouvette est modifiée dans la première direction jusqu'à une troisième température suffisante pour définir la première inflexion, mais insuffisante pour définir la deuxième inflexion. La température de l'éprouvette est alors modifiée dans la deuxième direction jusqu'à une quatrième température suffisante pour définir la sous-inflexion secondaire dans les données en cours d'enregistrement.

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