G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 3/18 (2006.01) G01V 3/30 (2006.01) G01V 3/38 (2006.01)
Patent
CA 2375432
A resistivity tool (100) suitable for use in a borehole and configured to obtain a resistivity radial profile at multiple depths of investigation in a geological formation comprises a receiver pair (R1, R2) and an array of transmitters (T1-T3). The distance of each transmitter from the receivers corresponds to a particular depth of investigation into the formation. Using as few as two transmitters, the resistivity tool derives resistivity values at any number of depths of investigation, including depths of investigation that do not correspond to transmitter/receiver spacings on the tool. A measurement processor (204) combines signals received from the existing transmitters using linear interpolation, geometric interpolation, and/or other techniques to derive the resistivity measurements.
Cette invention se rapporte à un résistivimètre (100) approprié pour être utilisé dans un trou de forage et conçu pour produire un profil de résistivité radial à des profondeurs d'investigation multiples dans une formation géologique, cet outil comprenant une paire de récepteurs (R1, R2) et un alignement d'émetteurs (T1, T3). La distance de chaque émetteur par rapport aux récepteurs correspond à une profondeur d'investigation particulière à l'intérieur de la formation géologique. En n'utilisant que deux émetteurs, ce résistivimètre dérive les valeurs de résistivité à n'importe quel nombre de profondeurs d'investigation, y compris des profondeurs d'investigation qui ne correspondent pas aux espacements entre émetteurs et récepteurs sur le résistivimètre. Un processeur de mesure (204) combine les signaux reçus des émetteurs existants, en utilisant l'interpolation linéaire, l'interpolation géométrique et/ou d'autres techniques pour dériver les mesures de résistivité.
Halliburton Energy Services Inc.
Ridout & Maybee Llp
LandOfFree
Method for radial profiling of resistivity at multiple... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Method for radial profiling of resistivity at multiple..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Method for radial profiling of resistivity at multiple... will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1701139