G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/319 (2006.01) G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3187 (2006.01) H04B 17/00 (2006.01) H04B 1/707 (2006.01)
Patent
CA 2551565
Apparatus and method for testing a CDMA integrated circuit including a demodulator for correlating input data with one of a set of codes and a test data pattern generator for spreading input test data with one of the set of codes to form a spread test data and providing the spread test data to the demodulator. The set of codes may be combined with the input test data to generate a set of spread test data which are then fed to the various components of the CDMA chip for testing the various components. In one embodiment, each one of the set of codes comprises a scrambling code and a spreading code.
Dispositif et procédé servant à effectuer l'essai d'un circuit intégré AMDC comprenant un démodulateur servant à mettre en corrélation des données d'entrée avec l'un d'un ensemble de codes, et un générateur de configuration de données d'essai servant à étaler des données d'essai d'entrée avec l'un de l'ensemble de codes afin d'obtenir des données d'essai étalées, et à transmettre ces données d'essai étalées au démodulateur. Cet ensemble de codes peut être combiné avec des données d'essai d'entrée afin de générer un ensemble de données d'essai étalées qui sont ensuite introduites dans les différents composants de la puce AMDC afin d'en effectuer l'essai. Dans un mode de réalisation, chaque code de l'ensemble de codes comprend un code de brouillage et un code d'étalement.
Qualcomm Incorporated
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1706611