G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 23/223 (2006.01)
Patent
CA 2698277
A method, instrument, and computer program software product for characterizing a sample with respect to the presence of a specified element such as lead, either as a constituent of a surface layer or of the bulk of the sample. Intensities of fluorescent emission at two characteristic emission lines are compared to establish whether the specified element is disposed at the surface of the sample. In the case where the specified element is disposed at the surface of the sample, an areal density of the specified element is determined, whereas in the case where the specified element is disposed within the bulk of the sample, a volumetric concentration of the specified element within the sample is determined.
La présente invention concerne un procédé, un instrument et un produit logiciel de programme informatique pour caractériser un échantillon quant à la présence d'un élément spécifié tel que le plomb, soit en tant que constituant d'une couche de surface, soit en tant que volume de l'échantillon. Des intensités d'émission fluorescentes à deux lignes d'émission caractéristiques sont comparées pour établir si l'élément spécifié est disposé ou non à la surface de l'échantillon. Dans le cas où l'élément spécifié est disposé à la surface de l'échantillon, une densité surfacique de l'élément spécifié est déterminée, tandis que dans le cas où l'élément spécifié est disposé dans le volume de l'échantillon, une concentration volumétrique de l'élément spécifié dans l'échantillon est déterminée.
Grodzins Lee
Pesce John
Freedman Gordon
Thermo Niton Analyzers Llc
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1782776