Improved accuracy in cell mitosis analysis

C - Chemistry – Metallurgy – 12 – Q

Patent

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C12Q 1/06 (2006.01) C12Q 1/68 (2006.01) G01N 15/14 (2006.01) G01N 33/487 (2006.01) G01N 33/50 (2006.01) G06F 19/00 (2006.01)

Patent

CA 2201868

Cells, stained with a fluorescent dye taken up by DNA in individual cells, are scanned with a cytometer. The integrated values of all the cells are compiled to create a histogram of cell counts versus integrated fluorescent light (fig. 2), representing populations of cells having a complement of DNA, but not in the process of division (G0 phase), cells having two full complements of DNA, but which have not actually divided into two cells (G2 phase) and cells in the process of replicating their DNA (S phase). Errors, resulting from statistical errors, focusing problems, inaccurate measurement of background, etc., in the integrated values and the histogram, and affecting the accuracy and prognostic value of the peaks and separation phases, are corrected by modeling the convolution of the error function with the signal function, and removing the error function, by deconvolution, from the G0 and G2 peaks and the S phase (fig. 14).

On procède à un examen par balayage de cellules colorées à l'aide d'un colorant fluorescent absorbé par de l'ADN dans des cellules individuelles, à l'aide d'un cytomètre. Les valeurs intégrées de toutes les cellules sont compilées afin de créer un histogramme de numérations cellulaires, contre une lumière fluorescente intégrée (Figure 2), représentant des populations de cellules présentant un complément d'ADN, mais pas dans le processus de division (phase G0), de cellules présentant deux compléments entiers d'ADN, mais ne s'étant pas effectivement divisées en deux cellules (phase G2), et de cellules en cours de réplication de leur ADN (phase S). Les erreurs résultant d'erreurs statistiques, de problèmes de focalisation, d'une mesure imprécise de fond, etc., dans les valeurs intégrés et l'histogramme, et affectant la valeur de précision et de pronostic des pics et des phases de séparation, sont corrigées par modélisation de la convolution de la fonction d'erreurs avec la fonction de signal, et suppression de la fonction d'erreur, par déconvolution, des pics G0 et G2 et de la phase S (Figure 14).

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