G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 31/28 (2006.01) G01R 31/3193 (2006.01)
Patent
CA 2657243
Signal-integrity measurement systems and methods utilizing unique time-base generation techniques for controlling the sampling of one or more signals under test. A time-base generator made in accordance with the present disclosure includes a phase filter and modulation circuitry that generates a rapidly varying phase signal as a function of the output of a sigma-delta modulator. The phase filter filters unwanted high-frequency phase components from the rapidly varying phase signal. The filtered signal is used to clock one or more samplers so as to create sampling instances of the signal(s) under test. The sampling instances are then analyze using any one or more of a variety of techniques suited to the type of signal(s) under test.
La présente invention concerne des systèmes et procédés de mesure d'intégrité de signal utilisant des techniques uniques de génération de base de temps pour contrôler l'échantillonnage d'un ou plusieurs signaux à l'essai. Un générateur de base de temps fabriqué selon la présente description comprend une circuiterie de filtre et modulation de phase qui génère un signal de phase qui varie rapidement en fonction de la sortie d'un modulateur sigma-delta. Le filtre de phase filtre des composantes de phase de haute fréquence indésirables à partir du signal de phase qui varie rapidement. Le signal filtré est utilisé pour déclencher de manière temporelle un ou plusieurs échantillonneurs afin de créer des instances d'échantillonnage du ou des signaux à l'essai. Les instances d'échantillonnage sont alors analysés à l'aide d'une ou plusieurs parmi une variété de techniques adaptées au type de signal ou de signaux à l'essai.
Dft Microsystems Inc.
Stikeman Elliott Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1831557