At-speed built-in self testing of multi-port compact srams

Details At-speed built-in self testing of multi-port compact srams At-speed built-in self testing of multi-port compact srams

G - Physics

11

C

G11C 29/00 (2006.01) G11C 29/10 (2006.01) G11C 29/12 (2006.01)

Patent

CA 2426040

A built-in self test (BIST) for a multi-port compact sRAM (CsRAM) uses a BIST controller which operates at the speed of the system, while the CsRAM is tested at the memory speed. The circuitry for testing allows multiple random accesses of the CsRAM per system clock cycle. In this way, timing-related defects in the CsRAM can be detected. The CsRAM is virtually partitioned into "k" sections, the sections being tested simultaneously from different ports with identical and complementary test data. A conventional (BIST) controller can be used with minimal addition of hardware in a collar arranged around the memory array.

L'invention concerne un auto-test intégré (BIST : built-in self test ) destiné à une mémoire statique compacte (CsRAM) multiport. Ce test fait appel à un contrôleur BIST qui fonctionne à la fréquence du système, tandis que la mémoire CsRAM est testée à la fréquence de la mémoire. Ces circuits de test permettent des accès aléatoires multiples à la mémoire CsRAM par cycle d'horloge du système. Les défauts de synchronisation peuvent ainsi être détectés dans la CsRAM. La mémoire CsRAM est divisée virtuellement en "k" sections, qui sont testées simultanément à partir de différents ports d'accès avec des données de test identiques et complémentaires. Cet auto-test peut être réalisé au moyen d'un contrôleur BIST conventionnel disposé en anneau autour du matrice mémoire complété par une quantité minimale de matériel de traitement.

Affiliated with

Also associated with

Rating

At-speed built-in self testing of multi-port compact srams does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with At-speed built-in self testing of multi-port compact srams, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and At-speed built-in self testing of multi-port compact srams will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

Comments { 0 }

Profile ID: LFCA-PAI-O-1857876