G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 1/32 (2006.01)
Patent
CA 2565811
Methods and apparatus for implementing a Dynamic Voltage Scaling (DVS) system are presented herein. In one embodiment, an embedded delay checker (EDC) cell is used to measure the actual activity and delay of a critical path within a microprocessor core, which is the basis for dynamically altering the voltage to the core. In another embodiment, a slaved ring oscillator (SRO) cell is placed adjacent to the microprocessor core and is used along with EDC cells to provide redundancy to a DVS system.
La présente invention concerne des procédés et un dispositif permettant d'obtenir un système d'ajustement de tension dynamique (DVS). Dans un mode de réalisation, une cellule de vérification du retard (EDC) intégrée est utilisée pour mesurer l'activité en cours et le retard d'une voie critique à l'intérieur d'un tore de microprocesseur, qui constitue la base pour modifier dynamiquement la tension vers le tore. Dans un autre mode de réalisation, une cellule d'oscillateur en anneau (SRO) asservie est placée à côté du tore de microprocesseur et elle est utilisée conjointement avec les cellules EDC afin de fournir une redondance à un système DVS.
Drop Michael
Henderson Eric Lee
Kazi Tauseef
Qualcomm Incorporated
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1873517