Process for the electromagnetic modelling of electronic...

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G - Physics

01

R

G01R 31/00 (2006.01) G01R 31/11 (2006.01) G01R 31/3193 (2006.01)

Patent

CA 2411349

Process for the electromagnetic modelling of electronic components and systems, for the extraction of certain electrical parameters, such as the static V-I characteristics and the input and output impedance, the output switching times in particular conditions of load and the transition times of the protection diodes. A test machine of the commercial type is used for these measurements, by generating stimulus signals and measuring the correlated signals, the test machine being suitable for parametric direct current measurements, functional tests and digital integrated circuit timing and also being used as a time domain reflectometer. The measurement phase is followed by a simulation phase during which the electric parameters used for modelling electronic components and systems are extracted.

Procédé de modélisation électromagnétique de composants et de systèmes électroniques afin d'extraire certains paramètres électriques, tels que les caractéristiques statiques V-I et l'impédance d'entrée et de sortie, les temps de commutation de sortie dans des conditions déterminées de charge et les temps de transition des diodes de protection. On utilise pour effectuer ces mesures une machine d'essai vendue dans le commerce, ce qui consiste à générer des signaux de stimulation et à mesurer les signaux corrélés, cette machine pouvant effectuer des mesures paramétriques de courant continu, des essais fonctionnels et des synchronisations de circuit intégré numérique, et on l'utilise également comme réflectomètre. La phase de mesure est suivie par une phase de simulation pendant laquelle on extrait les paramètres électriques utilisés pour la modélisation des composants et des systèmes électroniques.

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