G - Physics – 02 – B
Patent
G - Physics
02
B
G02B 27/54 (2006.01) G01N 21/45 (2006.01)
Patent
CA 2467901
The present invention is related to an apparatus for measuring by the Schlieren technique light beam deviations generated by a sample (EV), said apparatus comprising: a source (S) of light beam for lighting up said sample (EV) therewith so as to have a transmitted beam; imaging means (L2, L3) for forming the image of said sample from said transmitted beam; a Schlieren filter (SFP) for filtering said image, generating said Schlieren fringes; detecting means (CCD) for detecting said filtered image; phase shifting means for creating a phase shift of the Schlieren fringes at the transmitted beam; processing means for calculating the phase of the Schlieren fringes and deducing the angle of the beam deviation created by the sample from the detected image, characterised in that the Schlieren filter (SFP) comprises a periodic structure (SFP) of a defined period and having a series of alternating absorbing and transparent sub-elements. The present invention is also related to a method for measuring by the Schlieren technique light beam deviations generated by a sample using said apparatus.
La présente invention concerne un appareil permettant de mesurer par strioscopie les déviations du rayonnement lumineux produit par un échantillon (EV). Cet appareil comprend: une source (S) de rayonnement lumineux éclairant l'échantillon (EV) de façon à obtenir un rayonnement émis; des moyens d'imagerie (L2, L3) formant l'image de l'échantillon à partir du rayonnement émis; un filtre de Schlieren (SFP) filtrant l'image, et produisant des franges de Schlieren; des organes de détection (CCD) détectant l'image filtrée; des organes de déphasage créant un déphasage des franges de Schlieren au niveau du rayonnement émis; des organes de traitement calculant la phase des franges de Schlieren et déduisant, d'après l'image détectée, l'angle de déviation du rayonnement créé par l'échantillon. L'invention est caractérisée en ce que le filtre de Schlieren (SFP) comprend une structure périodique (SFP) d'une période définie, avec une série de sous-éléments alternativement absorbants et transparents. L'invention concerne également un procédé utilisant l'appareil de l'invention pour mesurer par strioscopie la déviation du rayonnement lumineux produit par un échantillon.
Gowling Lafleur Henderson Llp
Universite Libre de Bruxelles
LandOfFree
Apparatus and process for characterising samples does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.
If you have personal experience with Apparatus and process for characterising samples, we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Apparatus and process for characterising samples will most certainly appreciate the feedback.
Profile ID: LFCA-PAI-O-1958403