G - Physics – 06 – F
Patent
G - Physics
06
F
G06F 17/18 (2006.01) G06K 9/62 (2006.01)
Patent
CA 2409106
A method and system for determining a feature of a particular pattern are provided. In particular, data records are received, and predetermined patterns that are associated with at least some of the data records are obtained. Using the system and method, particular information is extracted from at least a subset of the received data records, the particular information being indicative of the particular pattern in at least some of the data records. Then, it is determined whether the particular pattern is an unexpected pattern based on the obtained predetermined patterns. In addition, it is possible to classify and reduce data and/or parameters provided in the data records. First, the data records are received. Then, the data records which have at least one particular pattern are classified using a Multivariate Adaptive Regression Splines technique. Thereafter, the data and/or parameters of the classified data records are shrunk using a Stein's Estimator Rule technique.
L'invention concerne un procédé et un système qui permettent de déterminer un aspect d'une configuration particulière. En particulier, des enregistrements de données sont reçus, et des configurations préétablies associées à au moins quelques-uns des enregistrements de données sont obtenues. Le procédé et le système de l'invention sont utilisés pour extraire une information particulière d'au moins un sous-ensemble des enregistrements de données reçus, ladite information particulière indiquant la configuration particulière dans au moins quelques-uns des enregistrements de données. Il est ensuite déterminé si la configuration particulière est une configuration non prévue basée sur les configurations préétablies obtenues. De plus, il est possible de classer et réduire des données et/ou paramètres fournis dans les enregistrements de données. Premièrement, les enregistrements de données sont reçus. Ensuite, les enregistrements de données présentant au moins une configuration particulière sont classés par une technique des splines à régression adaptative multivariable. Enfin, les données et/ou paramètres des enregistrements de données classés sont réduits au moyen de la règle de l'estimateur de Stein.
Berger Gideon
Mishra Bhubaneswar
New York University
Smart & Biggar
LandOfFree
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