G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 33/543 (2006.01) C07K 16/06 (2006.01)
Patent
CA 2425410
The present invention is a method for selectively removing objects from a surface utilizing a probe. The probe is scanned over the surface utilizing a greater and greater relative amount of force so that a certain number of the objects are removed from the surface. The force required to remove the objects from the surface can be calculated utilizing Hook's law and the spring constant of the probe. After removal of the objects that have a relatively weaker binding affinity with the surface, the remaining objects can be harvested, characterized, and subjected to further study.
La présente invention concerne un procédé qui permet d'éliminer sélectivement des objets d'une surface au moyen d'une sonde. La sonde est balayée au-dessus de la surface avec une force relative de plus en plus importante de manière à éliminer un certain nombre des objets présents sur la surface. La force nécessaire pour éliminer les objets de la surface peut être calculée à l'aide de la loi de Hook et de la constante du ressort de la sonde. Après l'élimination des objets ayant une affinité de liaison avec la surface relativement plus faible, les objets restants peuvent être récupérés, caractérisés puis utilisés pour des recherches ultérieures.
Henderson Eric
Mosher Curtis
Bioforce Nanosciences Inc.
Torys Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-2001995