All-mass ms/ms method and apparatus

Details All-mass ms/ms method and apparatus All-mass ms/ms method and apparatus

H - Electricity

01

J

H01J 49/42 (2006.01) H01J 49/38 (2006.01)

Patent

CA 2527081

A method of obtaining a mass spectrum of elements in a sample is disclosed. Sample precursor ions having a mass to charge ratio M1/Z1, M2/Z2, ~ Mn/Zn are generated, and fragmented at a dissociation site (192), so as to produce fragment ions of mass to charge ratio ml/Z1, m2/Z2, ~ mn/Zn. The fragment ions are guided into an ion trap (130) of the electrostatic or "Orbitrap" type, the fragment ions entering the trap in groups dependent upon the M/Z ratio of the precursor ions. The mass to charge ratio of each group is determined from the axial movement of ions in the trap. The electric field in the trap is distorted. Ions of the same m/z, that are derived from different pre-cursor ions, are then separated, because the electric field distortion causes the axial movement to become dependent upon factors other than m/z alone.

La présente invention concerne un procédé d'obtention d'un spectre de masse d'éléments se trouvant dans un échantillon. Des ions précurseurs d'échantillon ayant un rapport masse/charge M/Z sont générés puis fragmentés au niveau d'un site de dissociation, de manière à produire des ions fragmentés ayant un rapport masse/charge m/z. Les ions fragmentés sont guidés dans un piège à ions du type électrostatique ou du type 'Orbitrap'', les ions fragmentés pénétrant par groupes dans le piège en fonction des ions précurseurs M/Z. Le rapport masse/charge de chaque groupe est déterminé à partir du déplacement axial des ions dans le piège. Le champ électrique régnant dans le piège est déformé. Les ions ayant le même rapport m/z, qui proviennent de différents ions précurseurs, sont ensuite séparés, étant donné que la distorsion du champ électrique rend le déplacement axial plus dépendant de facteurs autres que le seul rapport m/z.

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