Automatic inspection system with stereovision

H - Electricity – 05 – K

Patent

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Details

H05K 13/08 (2006.01) H04N 13/00 (2006.01)

Patent

CA 2321096

In one embodiment of the present invention, two banks (22, 24) of fixed array cameras provide tiled stereo images (I1, I2, I3) and electronics assemble the tiled stereo images into a mosaic image. The mosaic image includes height information derived from the two sets stereo images, and is also compensated as a function of reference points in the image to more closely conform to the actual board (10). Preferably, a SAM model is used to locate the reference points. Reconstructed SAM models corresponding to components on the board are applied within a search area where a certain type of component is expected to be found. The best-fit location of the component within the search area, as well as the skew angle and the probability are computed. The best-fit location is the location where the Manhabolis distance and the residual error are optimized. Once the best-fit location is computed, it is compared to tolerances to identify improperly placed components, the absence of components or the like.

Dans un mode de réalisation de la présente invention, deux rangées (22, 24) de caméras fixes fournissent des images stéréoscopiques en mosaïque (I1, I2, I3) et un dispositif électronique assemble ces images stéréoscopiques en mosaïque pour former une image mosaïque. L'image mosaïque comporte des informations de hauteur obtenues à partir de deux ensembles d'images stéréoscopiques, et est également compensée comme fonction de points de référence de l'image de façon à coïncider plus étroitement avec la carte réelle (10). On utilise de préférence un modèle SAM pour localiser les points de référence. Des modèles SAM reconstruits correspondant à des composants de la carte sont appliqués à une zone de recherche dans laquelle on s'attend à trouver un certain type de composant. Le meilleur emplacement du composant dans la zone de recherche, ainsi que l'angle d'obliquité et la probabilité sont calculés. Le meilleur emplacement est celui qui permet d'obtenir une distance de Manhabolis et une erreur résiduelle optimales. Après calcul du meilleur emplacement, on compare celui-ci à des tolérances pour identifier les composants placés de manière inappropriée, une absence de composants ou analogue.

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