High-q pulsed fragmentation in ion traps

H - Electricity – 01 – J

Patent

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H01J 49/42 (2006.01)

Patent

CA 2575209

An ion trap (104) for a mass spectrometer includes an RF trapping voltage source (112) for applying an RF trapping voltage to at least one of a plurality of electrodes (102, 106, 110) of the ion trap (104) to trap at least a portion of ions in the ion trap (104); a resonance excitation voltage source (114) for applying a resonance excitation voltage pulse to the electrodes (102, 106, 110) to cause at least a portion of a selectred set of ions to undergo collisions and break into ion fragments; and a computer (116) for controlling the RF trapping voltage source (112) to reduce the RF trapping voltage after a predetermined delay period following termination of the resonance excitation voltage pulse to a second amplitude for retaining a low mass ion fragments in the ion trap (104) for later analysis.

L'invention porte sur un piège à ions (104) d'un spectromètre de masse comprenant une source de tension radioélectrique de piégeage (112) permettant d'appliquer une tension radioélectrique de piégeage sur au moins une pluralité d'une pluralité des électrodes (102, 106, 110) du piège à ions (104) de façon à piéger au moins une partie des ions; une source de tension d'excitation de résonance (114) permettant d'appliquer une impulsion de tension d'excitation de résonance sur les électrodes (102, 106, 110) de sorte qu'au moins une partie de l'ensemble sélectionné des ions soit soumise à des collisions et se brise en fragments; et un ordinateur (116) permettant de commander la source de tension radioélectrique de piégeage (112) afin de réduire la tension radioélectrique de piégeage au bout d'une durée prédéterminée après l'arrêt de l'impulsion de tension d'excitation de résonance à une seconde amplitude de façon à retenir dans le piège à ions (104) des fragments ioniques de faible masse en vue de leur analyse ultérieure.

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