H - Electricity – 01 – L
Patent
H - Electricity
01
L
H01L 27/00 (2006.01) H01L 21/77 (2006.01)
Patent
CA 2205956
A capacitor structure and method of forming a capacitor structure for an integrated circuit is provided. The capacitor structure, comprising a first electrode, capacitor dielectric and top electrode, is formed on a passivation layer overlying the interconnect metallization. The capacitor electrodes are interconnected to the underlying integrated circuit from underneath, through conductive vias, to the underlying interconnect metallization. The method provides for adding capacitors to an otherwise completed and passivated integrated circuit. The structure is particularly applicable for ferroelectric capacitors. The passivation layer acts as a barrier layer for a ferroelectric dielectric. Large area on-chip capacitors may be added without affecting the interconnect routing or packing density of the underlying devices, and may be added almost independently of the process technology used in the formation of the underlying integrated circuit.
Structure de condensateur et procédé de montage d'un condensateur pour circuit intégré. La structure de condensateur, qui comporte une première électrode, un diélectrique de condensateur et une électrode supérieure, est montée sur une couche de passivation déposée sur la couche métallique d'interconnexion. Les électrodes du condensateur sont connectées au circuit intégré sous-jacent depuis le dessous à la couche métallique d'interconnexion sous-jacente par l'intermédiaire de traversées conductrices. Ce procédé permet d'ajouter des condensateurs à un circuit intégré terminé et déjà passivé. La structure est particulièrement adaptée aux condensateurs ferroélectriques. La couche de passivation tient lieu de couche d'arrêt pour un diélectrique ferroélectrique. Il est possible d'ajouter des condensateurs sur puce de grandes dimensions sans qu'il soit necessaire de modifier le routage d'interconnexion ou la densité d'intégration des composants sous-jacents, et presque indépendamment du procédé employé pour réaliser le circuit intégré sous-jacent.
Emesh Ismail T.
Leung Pak K.
de Wilton Angela C.
Nortel Networks Limited
Northern Telecom Limited
LandOfFree
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