Cantilever type probe, scanning tunneling microscopy and...

G - Physics – 11 – B

Patent

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G11B 9/14 (2006.01) G01Q 60/10 (2010.01) G01Q 60/16 (2010.01) B81B 3/00 (2006.01) G11B 11/00 (2006.01) H01L 41/09 (2006.01)

Patent

CA 2048968

A cantilever type probe comprises a cantilever-shaped displacement element having electrodes for driving which displace two layers of piezoelectric material at the interface and first and second surfaces of the layers, respectively, and each of the electrodes being arranged separately within the same plane, and a tip for information input and output connected to electrodes for drawing out arranged separately from the electrodes for driving at the free end of either one of the first and second surfaces of the element. A scanning tunneling microscopy or an information processing device comprises the cantilever type probe, a driving means for driving the displacement element of the cantilever type probe and a bias or pulse voltage application means for applying a bias or pulse voltage between a sample and the probe.

Une sonde en porte-à-faux comprend un élément de déplacement en forme de porte-à-faux présentant des électrodes de commande qui déplacent deux couches de matériel piézoélectrique à l'interface et aux première et deuxième surfaces des couches, respectivement, et chaque électrode étant disposée séparément sur le même plan, et une pointe pour l'information d'entrée et de sortie, connectée aux électrodes aux fins d'extraction, disposée séparément des électrodes, aux fins de commande de l'extrémité libre de l'une ou l'autre des première et deuxième surfaces de l'élément. Un dispositif de microscopie par effet tunnel ou de traitement de l'information comprend la sonde en porte-à-faux, un moyen de commande aux fins de commande de l'élément de déplacement de la sonde en porte-à-faux et un moyen d'application de la tension de polarisation ou d'impulsion aux fins d'application d'une tension de polarisation ou d'impulsion entre l'échantillon et la sonde.

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