Determination of formation anisotropy using multi-frequency...

G - Physics – 06 – F

Patent

Rate now

  [ 0.00 ] – not rated yet Voters 0   Comments 0

Details

G06F 19/00 (2006.01) G01V 1/40 (2006.01) G01V 3/18 (2006.01) G01V 3/28 (2006.01) G01V 3/30 (2006.01) G01V 3/38 (2006.01)

Patent

CA 2443514

Skin-effect corrections are applied to measurements made by a transverse induction logging tool to give corrected measurements indicative of vertical conductivities of a formation. Data from a conventional induction logging tool (10) are inverted or focused to give an isotropic model of formation resistivity (301). A forward modeling is used to derive from the isotropic model measurements that would be expected with a transverse induction logging tool (303). Skin-effect corrections are applied to these expected measurements (305). The formation anisotropy is determined from the skin-effect corrected transverse induction logging measurements, the skin-effect corrected expected measurements and from the isotropic model conductivities (311).

Des corrections d'effet de peau sont appliquées à des mesures faites au moyen d'un appareil de diagraphie à induction transversale pour obtenir des mesures corrigées indiquant les conductivités verticales d'une formation. Des données d'un appareil (10) de diagraphie à induction classique sont inversées ou focalisées pour réaliser un modèle isotropique de résistivité (301) d'une formation. Une modélisation progressive est appliquée pour déduire à partir du modèle isotropique les mesures auxquelles on pourrait s'attendre avec l'appareil (303) de diagraphie à induction transversale, des corrections d'effet de peau étant appliquées à ces mesures (305) prévues. L'anisotropie de la formation est déterminée à partir des mesures par induction transversale corrigées de l'effet de peau, des mesures prévues corrigées de l'effet de peau et des conductivités (311) du modèle isotropique.

LandOfFree

Say what you really think

Search LandOfFree.com for Canadian inventors and patents. Rate them and share your experience with other people.

Rating

Determination of formation anisotropy using multi-frequency... does not yet have a rating. At this time, there are no reviews or comments for this patent.

If you have personal experience with Determination of formation anisotropy using multi-frequency..., we encourage you to share that experience with our LandOfFree.com community. Your opinion is very important and Determination of formation anisotropy using multi-frequency... will most certainly appreciate the feedback.

Rate now

     

Profile ID: LFCA-PAI-O-1662216

  Search
All data on this website is collected from public sources. Our data reflects the most accurate information available at the time of publication.