Ion optical system for a mass spectrometer

H - Electricity – 01 – J

Patent

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Details

H01J 49/06 (2006.01) H01J 49/22 (2006.01) H01J 49/26 (2006.01)

Patent

CA 2344446

A mass spectrometer having an ion reflecting instead of ion transmissive optics system. The spectrometer includes an ion source (16) for providing a beam of sample particles including ions along an axis (24). Its ion optics system (34-46) establishes a reflecting electrostatic field for reflecting ions along a path (30) from the particle beam and focussing them at an entrance aperture (26) of a mass analyser (25) and ion detector (27) for spectrometric analysis. The invention allows more efficient separation of ions from neutral particles, gives better signal to noise ratios and allows for a compact "optical" path and thus cheaper instrument to be manufacctured. The reflecting electrostatic field can also be used to filter higher energy ions from lower energy ions. An ion optical system as such is also disclosed.

L'invention concerne un spectromètre de masse possédant un système optique à réflexion ionique au lieu d'un système optique à transmission ionique. Le spectromètre comprend une source d'ions (16) qui génère un faisceau de particules échantillon formé d'ions et dirigé suivant un certain axe (24). Son système optique ionique (34-46) génère un champ électrostatique réflecteur, qui réfléchit les ions suivant un certain trajet (30) à partir du faisceau de particules et les concentre sur un orifice d'entrée (26) d'un analyseur de masse (25) et d'un détecteur d'ions (27) en vue de l'analyse spectrométrique. L'invention permet de séparer plus efficacement les ions des particules neutres, améliore le rapport signal sur bruit et permet d'obtenir un trajet "optique" plus compact, ce qui diminue le coût de l'instrument. Le champ électrostatique réflecteur peut également être utilisé pour séparer par filtrage les ions de haute énergie des ions d'énergie plus faible. L'invention concerne également le système optique ionique lui-même.

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