H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 35/00 (2006.01) H01J 35/06 (2006.01) A61B 6/03 (2006.01)
Patent
CA 2474053
A structure to generate x-rays has a plurality of stationary and individually electrically addressable field emissive electron sources (402) with a substrate composed of a field emissive material, such as carbon nanotubes. Electrically switching the field emissive electron sources at a predetermined frequency field emits electrons in a programmable sequence toward an incidence point on a target. The generated x-rays correspond in frequency and in position to that of the field emissive electron source. The large-area target (404) and array or matrix of emitters (402) can image objects (416) from different positions and/or angles without moving the object or the structure (400) and can produce a three dimensional image. The x-ray system is suitable for a variety of applications including industrial inspection/quality control. Analytical instruments, security systems such as airport security inspection systems and medical imaging, such as computed tomography.
L'invention concerne une structure pour générer des rayons X, cette structure comprenant une pluralité de sources d'électrons à émission de champ (402) fixes et adressables électriquement de façon individuelle, chacune de ces sources comprenant un substrat composé d'un matériau à émission de champ, tel que des nanotubes de carbone. Par commutation électrique des sources d'électrons à émission de champ à une fréquence prédéterminée, des électrons sont émis par effet de champ selon une séquence programmable en direction d'un point d'incidence sur une cible. La fréquence et la position des rayons X générés correspondent à celles de la source d'électrons à émission de champ. La cible de grande superficie (404) et le réseau ou la matrice d'émetteurs (402) peuvent imager des objets (416) à partir de positions différentes et/ou d'angles différents sans déplacement de l'objet ou de la structure (400) et peuvent produire une image en trois dimensions. Ce système à rayons X est adapté à diverses applications, notamment des applications d'inspection industrielle/contrôle qualité, des instruments analytiques, des systèmes de sécurité, tels que des systèmes d'inspection de la sécurité des aéroports, et des applications d'imagerie médicale, telles que la tomographie assistée par ordinateur.
Lu Jianping
Qiu Qi
Zhou Otto Z.
Marks & Clerk
The University Of North Carolina - Chapel Hill
The University Of North Carolina At Chapel Hill
LandOfFree
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