Method and apparatus for the automatic non-destructive...

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 29/06 (2006.01) G01M 17/00 (2006.01) G01N 29/22 (2006.01) G01N 29/26 (2006.01) G01N 29/265 (2006.01) G01N 29/27 (2006.01) G01S 15/89 (2006.01)

Patent

CA 2691350

The invention relates to an axle pin inspection apparatus consisting of: (i) an inspection bench (BC) for receiving a tubular axle pin (AE) including a wall (PA) having known variable outside and inside radius profiles; (ii) at least one ultrasound probe (SU) for analysing at least one selected portion of the wall (PA) in a selected angular sector and, thereby, acquiring analysis data; (iii) inspection means (MC) for controlling the inspection bench (BC) in order to position each probe (SU) on the outer surface (SE) or the inner surface (SI) of the wall (PA) at at least a first location selected as a function of the profiles thereof and optionally the loading of the pin (AE), so that the probe analyses the first and second selected portions of the wall (PA) respectively in at least a first and at least a second selected angular sector oriented along first and second opposing longitudinal or transverse directions, and so that the probe acquires analysis data for different relative angular positions of the pin in relation to the probe; and (iv) processing means (MT) for producing charts on the basis of said analysis data, which charts are represent the transverse or longitudinal orientations and the echo indication positions inside the wall (PA).

Un appareil de contrôle d'axes d'essieu comprend i) un banc de contrôle (BC) chargé de recevoir un axe d'essieu tabulaire (AE) comportant une paroi (PA) présentant des profils de rayons extérieur et intérieur variables et connus, ii) au moins une sonde à ultrasons (SU) chargée d'analyser au moins une portion choisie de cette paroi (PA) dans un secteur angulaire choisi et ainsi d'acquérir des données d'analyse, iii) des moyens de contrôle (MC) chargés de piloter le banc de contrôle (BC) afin de placer chaque sonde (SU) sur la surface externe (SE) ou interne (SI) de la paroi (PA) en au moins un premier endroit choisi en fonction de ses profils et d'un éventuel encombrement de l'axe (AE) afin qu'elle analyse des premières et deuxièmes portions choisies de la paroi (PA) respectivement dans au moins un premier et au moins un deuxième secteur angulaire choisi, orienté suivant des premier et second sens longitudinaux ou transversaux opposés, et qu'elle acquière ainsi des données d'analyse pour différentes positions angulaires relatives de l'axe par rapport à elle, et iv) des moyens de traitement (MT) chargés de constituer à partir de ces données d'analyse des cartes représentant les orientations transversales ou longitudinales et les positions d'indications d'échos au sein de la paroi (PA).

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