G - Physics – 01 – N
Patent
G - Physics
01
N
G01N 22/02 (2006.01) G01N 21/55 (2006.01) G01N 21/88 (2006.01) G01N 23/20 (2006.01)
Patent
CA 2252552
A method and system are provided for inspecting a low gloss surface (12) of an object (14) at a vision station utilizing a regular, extended pattern of infrared radiation. The system includes an infrared radiation source (10) and an infrared image converter and/or infrared cameras (16) to automatically locate a surface defect in the object. A signal processor processes a first set of electrical signals from the infrared cameras to obtain a second set of electrical signals which represent pattern distortions in the reflected infrared radiation signal caused by the surface defect in order to locate the surface defect in the object. The second set of electrical signals may be processed to classify the surface defect in the object as being an "in-dent" or an "out-dent".
Cette invention concerne un procédé et un dispositif d'inspection d'une surface à faible brillance (12) d'un objet (14) au niveau d'une station de visualisation, ledit dispositif faisant usage d'un diagramme de rayonnement infrarouge étendu et régulier. Ledit dispositif comporte une source de rayonnement infrarouge (10) et un convertisseur d'image infrarouge et/ou des caméras à infrarouge (16) permettant de localiser de manière automatique un défaut de surface de l'objet. Un organe de traitement des signaux traite un premier ensemble de signaux électriques en provenance des caméras à infrarouge de façon à produire un second ensemble de signaux électriques qui représentent les distorsions du diagramme de rayonnement dans le signal du rayonnement infrarouge réfléchi, ces distorsions étant provoquées par le défaut de surface qu'il est ainsi possible de localiser sur l'objet. Le second ensemble de signaux électriques peut subir un traitement visant à permettre le classement du défaut de surface dans la catégorie "renfoncement" ou dans la catégorie "excroissance".
Czubko Myron
Haven Neil
Parker Jeffrey B.
Autospect Inc.
Macrae & Co.
Perceptron Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1612213