G - Physics – 01 – R
Patent
G - Physics
01
R
G01R 33/022 (2006.01) A61B 5/05 (2006.01)
Patent
CA 2223748
A method and system of obtaining magnetic measurements with a preselected order of sensor gradiometer which are substantially equivalent to those which would be obtained with a sensor gradiometer of a higher order. The system and method employs a reference system comprising a reference tensor gradiometer and appropriate components of a measured tensor are combined with the measurements obtained from the sensor gradiometer to obtain a magnetic measurement substantially equivalent to that which would have been measured by a higher order sensor gradiometer.
Procédé et système d'obtention de mesures magnétiques avec un gradiomètre détecteur d'ordre présélectionné, ces mesures étant sensiblement équivalentes à celles que l'on obtiendrait avec un gradiomètre détecteur d'ordre supérieur. Le système et le procédé ont recours à un système de référence comprenant un gradiomètre de tension de référence, et des composantes appropriées d'un tenseur mesuré sont combinées aux mesures obtenues du gradiomètre de détection afin d'obtenir une mesure magnétique sensiblement équivalente à celle que l'on obtiendrait avec un gradiomètre de détection d'ordre supérieur.
Haid Gordon James
Lee Wai Meng Sixtus
Taylor Brent Ronald
Tillotson Mark Alan
Vrba Jiri
Ctf Systems (2001) Inc.
Ctf Systems Inc.
Mccarthy Tetrault Llp
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1741825