Methods for determining the depth of defects

G - Physics – 01 – N

Patent

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G01N 25/72 (2006.01) G01N 21/95 (2006.01)

Patent

CA 2471334

A method facilitates inspection of a component surface (28). The method comprises positioning a surface of the component (10) to be inspected in an optical path (24) of at least one infrared radiation detector (26), heating the component surface using electromagnetic radiation to cause an increase in radiance from a defect (70) present at the component surface, and detecting temperature variations within the component surface using the at least one infrared radiation detector, such that the surface irradiance is measured at predetermined locations across the component surface. The method further comprises detecting cracks in the component by analyzing radiation transient response data received by the infrared radiation detector, and correlating the temperature variations to the radiation transient response data to determine a depth of the detected cracks.

L'invention concerne une méthode qui facilite l'inspection de la surface d'un composant (28). La méthode consiste à positionner une surface du composant (10) à inspecter dans un chemin optique (24) d'au moins un détecteur de rayonnement infrarouge (26), à chauffer la surface du composant au moyen d'un rayonnement électromagnétique pour accroître la luminance d'un défaut (70) présent sur la surface du composant et à détecter les écarts de température à l'intérieur de la surface du composant au moyen d'au moins un détecteur de rayonnement infrarouge, de sorte que l'éclairement énergétique de la surface soit mesuré à des emplacements prédéterminés à travers la surface du composant. La méthode consiste également à détecter les fissures dans le composant en analysant les données de réponse transitoire de rayonnement reçues par le détecteur de rayonnement infrarouge et à corréler les écarts de température aux données de réponse transitoire de rayonnement pour déterminer la profondeur des fissures détectées.

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