Self testing fault circuit interrupter apparatus and method

G - Physics – 01 – R

Patent

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G01R 31/3181 (2006.01) G01R 19/00 (2006.01) G01R 31/00 (2006.01) G01R 31/3167 (2006.01)

Patent

CA 2711903

A self testing fault circuit interrupter device comprising a fault circuit comprising at least one line monitoring circuit, at least one line interrupting circuit and at least one fault detector circuit which is configured to selectively operate said at least one line interrupting circuit when a fault is detected. This fault circuit also includes at least one test circuit configured to initiate a self test on the fault circuit and at least one timing circuit for controlling the time period for a self test being performed on said at least one self test circuit. The timing circuitry can be in the form of additional circuitry which comprises a transistor which controls the discharge rate of a timing capacitor. The timing capacitor is present to prevent any false triggering of a fault circuit. A fault circuit test condition does not stop until the capacitor is fully discharged. By controlling the timing capacitor discharge rate, the triggering of an SCR is not delayed too much in the presence of an external fault because during the presence of this external fault the test cycle is considerably shortened in time based directly upon the size of the external fault. The testing circuit can include a microcontroller which can be programmed to perform a self test across at least two different half cycles of opposite polarity. The determination of the timing of the self test is based upon timing performed by the microcontroller in combination with zero crossing circuitry.

Le dispositif d'interrupteur de circuit détecteur de défaut à autocontrôle selon la présente invention comprend un circuit détecteur de défaut comprenant au moins un circuit d'analyse de ligne, au moins un circuit de coupure de ligne et au moins un circuit de détection de défaut qui est configuré de manière à faire fonctionner de façon sélective ledit ou lesdits circuits de coupure de ligne lorsqu'un défaut est détecté. Ce circuit détecteur de défaut inclut aussi au moins un circuit de contrôle configuré de manière à lancer un autocontrôle sur le circuit détecteur de défaut et au moins un circuit de minutage permettant de contrôler le laps de temps nécessaire à l'exécution d'un autocontrôle sur ledit ou lesdits circuits à autocontrôle. L'ensemble de circuits de minutage peut se présenter sous la forme d'un ensemble de circuits supplémentaire qui comprend un transistor qui contrôle l'intensité de décharge d'un condensateur de minutage. Ledit condensateur de minutage est présent afin d'empêcher tout déclenchement intempestif d'un circuit détecteur de défaut. Une condition de contrôle de circuit détecteur de défaut ne s'arrête que lorsque le condensateur est entièrement déchargé. En contrôlant l'intensité de décharge du condensateur de minutage, le déclenchement d'un redresseur commandé au silicium n'est pas excessivement différé en présence d'un défaut extérieur, car pendant la présence de ce défaut extérieur, le cycle de contrôle est considérablement réduit en termes de temps, directement en fonction de la taille du défaut extérieur. Le circuit de contrôle peut inclure un microcontrôleur qui peut être programmé de manière à exécuter un autocontrôle sur au moins deux demi-périodes différentes de polarité opposée. La détermination du minutage de l'autocontrôle est basée sur le minutage effectué par le microcontrôleur en association avec l'ensemble de circuits de passage à zéro.

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