G - Physics – 01 – V
Patent
G - Physics
01
V
G01V 5/00 (2006.01)
Patent
CA 2443509
An X-Ray inspection system and methodology is disclosed. The system comprises a conveyor, an X-ray source that exposes an item under inspection to X-ray radiation and at least one X-ray detector that detects X-ray radiation modified by the item. The X-ray source and X-ray detector may be movable in any of first and second dimensions. The X-ray source may also be moved in a third dimension to zoom in and out on regions of interest in the item order inspection. The system further comprises a controller that controls movement of the X-ray source and X-ray detector, independently of each other, in any of collinear and different directions, to provide a plurality of X-ray views of the item at varying examination angles of the X-ray radiation. A processor coupled to the controller may be configured to receive and process detection information from the X-ray detector and to provide processed information to an operator interface. The operator interface may also receive instructions from an operator input and provide the instructions to the controller.
L'invention concerne un système et une méthodologie de contrôle à rayons X. Le système comporte un transporteur, une source de rayons X qui expose un article contrôlé à des rayons X et au moins un détecteur de rayons X destiné à détecter les rayons X modifiés par l'article. La source de rayons X et le détecteur de rayons X peuvent être mobiles dans n'importe laquelle d'une première ou d'une deuxième dimension. La source de rayons X est également mobile dans la troisième dimension pour effectuer des zooms avant et arrière sur des régions d'intérêt de l'objet contrôlé. Le système comprend en outre un contrôleur qui commande les mouvements de la source de rayons X et du détecteur de rayons X, indépendamment l'un de l'autre, dans n'importe quelle direction colinéaire ou différente, de manière à produire une pluralité de vues en rayons X de l'article à des angles d'inspection variables des rayons X. Un processeur couplé audit contrôleur peut être configuré pour recevoir et traiter les informations de détection du détecteur de rayons X et fournir les informations traitées à une interface opérateur. Cette interface opérateur peut également recevoir des instructions d'une entrée opérateur et fournir ces instructions au contrôleur.
L-3 Communications Security And Detection Systems Corporation De
Smart & Biggar
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1588408