H - Electricity – 01 – J
Patent
H - Electricity
01
J
H01J 37/252 (2006.01) G01N 23/225 (2006.01)
Patent
CA 2753990
An x-ray analysis apparatus for illuminating a sample spot with an x-ray beam. An x-ray tube is provided having a source spot from which a diverging x-ray beam is produced having a characteristic first energy, and bremsstrahlung energy; a first x-ray optic receives the diverging x-ray beam and directs the beam toward the sample spot, while monochromating the beam; and a second x-ray optic receives the diverging x-ray beam and directs the beam toward the sample spot, while monochromating the beam to a second energy. The first x-ray optic may monochromate characteristic energy from the source spot, and the second x-ray optic may monochromate bremsstrahlung energy from the source spot. The x-ray optics may be curved diffracting optics, for receiving the diverging x-ray beam from the x-ray tube and focusing the beam at the sample spot. Detection is also provided to detect and measure various toxins in, e.g., manufactured products including toys and electronics.
La présente invention concerne un appareil d'analyse par rayons X pour éclairer un point échantillon par un faisceau de rayons X. L'on prépare un tube à rayons X ayant un point de source à partir duquel est produit un faisceau divergent de rayons X ayant une première énergie caractéristique, et une énergie de rayonnement de freinage ; un premier élément optique à rayons X reçoit le faisceau divergent de rayons X et dirige le faisceau vers le point échantillon tout en monochromatisant le faisceau ; et un deuxième élément optique à rayons X reçoit le faisceau divergent de rayons X et dirige le faisceau vers le point échantillon tout en monochromatisant le faisceau à une seconde énergie. Le premier élément optique à rayons X peut monochromatiser une énergie caractéristique provenant du point de source et le second élément optique à rayons X peut monochromatiser l'énergie de rayonnement de freinage provenant du point de source. Les éléments optiques à rayons X peuvent être des éléments optiques à diffraction de forme incurvée, afin de recevoir le faisceau divergent de rayons X provenant du tube à rayons X et de concentrer le faisceau au niveau du point échantillon. Un système de détection est également prévu pour détecter et mesurer diverses toxines dans des produits manufacturés par exemple, notamment des jouets et des appareils électroniques.
Bailey Adam
Burdett John H. Jr.
Chen Zewu
Gibson David M.
Gibson Walter M.
Cassan Maclean
X-Ray Optical Systems Inc.
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1611843