B - Operations – Transporting – 81 – C
Patent
B - Operations, Transporting
81
C
B81C 3/00 (2006.01) G01Q 60/50 (2010.01) G01Q 60/52 (2010.01) G01Q 70/12 (2010.01) G01Q 70/16 (2010.01) B81B 3/00 (2006.01)
Patent
CA 2499370
The present invention provides an MFM or MRFM analytical device comprising a micro~-dimensional probe that is capable of detecting single proton and single electron spin. Furthermore, it provides an MFM or MRFM device comprising a micro-dimensional probe, that is capable of detecting magnetic structures of size of order one nanometer. In particular, the present invention provides a micro-dimensional probe for an MFM or MRFM device that comprises a CNT cantilever (1) that comprises a nanoscale ferromagnetic material (2). The CNT cantilever (1) can be attached to an electrode (3) as a component of a microscopic probe which is coupled with an electrical circuit as a component of a device for nanoscale MFM or MRFM micro-dimensional probes. The device comprising the probe and electrical circuit can be incorporated into an existing scanning probe microscope (SPM) apparatus having accommodation for electrical readout.
La présente invention concerne un dispositif d'analyse par microscopie à force magnétique (MFM) ou par microscopie à force de résonance magnétique (MRFM) comprenant une sonde micro-dimensionnelle qui est capable de détecter un proton unique et un spin électronique unique. L'invention a également pour objet un dispositif MFM ou MRFM comprenant une sonde micro-dimensionnelle qui est capable de détecter des structures magnétiques de taille de l'ordre du nanomètre. L'invention concerne en particulier une sonde micro-dimensionnelle destinée à un dispositif MFM ou MRFM qui comprend un système de nanotubes de carbone (CNT) en porte-à-faux qui comprend un matériau ferromagnétique à l'échelle nanométrique. Le système de CNT en porte-à-faux peut être fixé à une électrode en tant que composant d'une sonde microscopique qui est couplée à un circuit électrique en tant que composant d'un dispositif destiné à des sondes micro-dimensionnelles MFM ou MRFM à l'échelle nanométrique. Le dispositif comprenant la sonde et le circuit électrique peut être incorporé à un microscope à sonde de balayage (SPM) existant équipé pour permettre la lecture par voie électrique.
Gowling Lafleur Henderson Llp
The Trustees Of Boston College
LandOfFree
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Profile ID: LFCA-PAI-O-1816043